高低溫循環(huán)試驗設(shè)備

高低溫循環(huán)試驗設(shè)備主要用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒性能。設(shè)備適用于電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、化學(xué)、食品、醫(yī)療、航天、建材等制品的檢測質(zhì)量之用。

滿足各項性能指標(biāo)，滿足標(biāo)準(zhǔn): 

1. GB10592-89高低溫箱技術(shù)條件;

2.《GB2423. 1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》:低溫試驗方法;

3.《GB2423. 2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》:高溫試驗方法;

高低溫循環(huán)試驗設(shè)備的選型：

升降溫速率：

RT<----->150℃ 約35分鐘（非線性空載，約3.0℃/分鐘）。

RT<----->-20℃ 約45分鐘（非線性空載，約1.0℃/分鐘）。

解析精度： 0.01℃。       

控制精度：≤±0.5℃。

均勻度：≦2.0℃。

電源功率：AC1￠3W 220V 50/60HZ或AC3￠5W380V 50/60HZ，功率電流視型號規(guī)格而定。